概念:
雙縫干涉
單縫衍射
多縫干涉的極小、極大值
狹縫以及細線衍射
觀察鐳射通過單縫和多縫後形成的干涉衍射圖樣,對圖樣進行掃描,並即時地作出光強-位置圖。學生可以據此研究單縫和多縫衍射之間的異同點。
通過使用轉動感測器採集衍射圖案得到中央極大值和各極小值之間的間距,接著畫出光強和距離的關係曲線,同樣也可以得到雙縫或更多縫衍射得到的結果。光強資料由光感測器採集,這些測量結果可以和理論做比較,也可以研究干涉和衍射圖樣的異同點。
PASCO 優點
由於線性轉換器對光感測器進行定位,這樣就沒有必要按恒定速率移動光感測器,通過即時給出光強-位置曲線,可以顯示光強曲線和干涉圖樣之間的關係。
通過調整光感測器光闌的狹縫尺寸,以達到觀察干涉圖樣細節所需的精度。
實驗包括:
1.2 光學導軌 OS-8508
半導體雷射器 OS-8525A
狹縫附件 OS-8523
光感測器 CI-6504A
轉動感測器 CI-6538
光闌支架 OS-8534
線性轉換器 OS-8535
光的干涉衍射實驗手冊
光的干涉衍射實驗DataStudio 檔
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