據美國時間7月4日報道：NanoSight公司對美國材料實驗協會ASTM E2834的推出表示歡迎。ASTM E2834是一個有關於使用納米粒子跟蹤分析(NTA)對懸浮中納米材料粒度分布的行業最新測量標準規範。這個標準將納米粒子跟蹤分子應用程序細節化至從10納米到開始沈降的懸浮顆粒粒徑的測量。

NanoSight美國西部銷售經理首先對這次標準的出臺表示高興，他進一步指出，這份E2834的文件花費三年的時間才製定完成。它將對布朗運動核心以及均值、模式、百分位值和濃度等派生參數進行嚴格的審查。其中，第三方專家對於NTA的評估在審查要求中起著至關重要的作用。

作為NanoSight五年前已致力於開發納米粒子跟蹤分析方法(NTA)的見證者英國國家物理實驗室(NPL)的有關人員表示，NPL與NanoSight緊密合作，多年來一直致力於納米材料的表征方法。由於NTA 在納米測量領域的傑出能力，有關團隊一直對其抱以極大的研究興趣。正如英國國家計量研究所所言，NPL將充分運用新標準，繼續與NanoSight公司合作，為有關領域提供一致、精確、比較可靠的數據。

NanoSight首席執行官表示，新標準的出臺具有裏程碑式的意義，公司許多用戶會在呈現他們數據研究論文以及監管機構對產品審批和臨床試驗上請求對這個技術的定義。NanoSight將繼續為行業帶來特殊材料的測試方法進以便鎖定操作規程。這個新標準的出臺很及時，我們將有機會更多看到NTA這項技術在納米顆粒技術方面卓越的能力。

另據了解，Nanosight系統既提供直接實時的納米顆粒檢視，也給出全面的顆粒粒徑分布分析。這兩種數據均是NanoSight所特有的。

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